CPO評価向け可変波長光源、出力性能を強化

AIワークロードに対応したデータセンター相互接続の大容量化が進む中、コパッケージドオプティクス（CPO）やシリコンフォトニクスは、デバイス認定および製造試験の領域で採用が拡大している。CPOでは光を複数の導波路へ分岐する構成が一般的で、挿入損失が増えることから、評価用光源にはより高い光出力が求められる。こうした背景の下、Santec LISはCPO評価に最適化した可変波長光源TSL-570 Type Uを開発し、従来モデル比で光出力を3倍超に高めた。

CPOの挿入損失を見据えた高出力化
CPOアーキテクチャでは、光を複数の分岐導波路へ配分するため挿入損失が増大し、測定点で得られる有効光パワーが低下する。デバイス評価では、複雑な光路を通過しても十分な信号レベルを確保できる高出力の可変波長光源が必要となる。

Santec LISは、新モデルにおいて光学設計と制御回路を最適化し、同シリーズの従来光源と比べて出力を3倍超に引き上げたとしている。用途は研究開発での特性評価から量産評価までを想定する。

1300〜1320 nmでCW出力+25 dBm超
TSL-570 Type Uは、連続波（CW）発振で1300〜1320 nmの波長帯において**+25 dBm（300 mW）超**の高出力を実現する仕様とされる。結合損失やオンチップ分配、測定用タップなどで光パワーが低下する条件下でも評価を進めやすい出力レベルを狙っている。

1270〜1350 nmをカバーし、+20 dBm超を維持
波長依存の応答確認や広帯域評価に向けて、可変波長範囲は1270〜1350 nmをカバーしつつ、光出力は**+20 dBm超**を維持する。波長掃引により損失特性や応答挙動、性能限界を確認するデバイス評価プロセスに対応する。

シリコンフォトニクスの開発から量産評価まで
Santec LISはTSL-570 Type Uを、CPOおよびシリコンフォトニクスデバイスの特性評価向けの可変波長光源として位置付けている。高出力と広い可変波長帯を組み合わせることで、先端フォトニクス統合技術を用いた高密度データセンター接続における、より安定した測定環境と評価効率の向上を狙う。

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